طیف­‌سنجی جذبی پرتو ایکس با استفاده از تابش سنکروترون

طیف­‌سنجی جذبی پرتو ایکس با استفاده از تابش سنکروترون

-
اطلاعات بلیت
مهلت ثبت‌نام
قیمت (تومان)
تعداد
درخواست نام‌نویسی (هزینه‌ی شرکت در مدرسه: 350هزار تومان)
تهیه‌ی این بلیط به معنی شرکت شما درمدرسه نمی‌باشد. خواهشمندیم تا بررسی درخواست خود از سوی کارگروه علمی و دریافت ایمیل تایید شرکت در مدرسه منتظر بمانید.
۳ تیر
رایگان

درباره‌ی مدرسه

فراخوان: چشمه‌ی نور ایران در راستای آموزش مهارت‌های لازم برای کاربران آزمایشگاه‌های سنکروترونی، در روزهای 10 تا 14 تیرماه 1396، مدرسه‌ای با عنوان «طیف‌سنجی جذبی پرتوی ایکس با استفاده از تابش سنکروترون»  با تدریس دکتر «فریده جلیلوند»، دانشیار شیمی دانشگاه کلگری  کانادا برگزار می‌کند.

مخاطبین: این مدرسه پنج‌‍روزه ویژه فارغ‌التحصیلان دوره‌های تحصیلات تکمیلی در رشته‌های شیمی، فیزیک، مهندسی مواد و ... است که برای طرح پژوهشی خود نیاز به انجام آزمایش‌هایی با اهداف  آنالیز و ساختارشناسی مواد در آزمایشگاه‌های سنکروترونی خواهند داشت.

این مدرسه شامل نشست‌های آموزشی با دروسی در زمینه‌های اصول طیف‌سنجی جذبی پرتوی ایکس (EXAFS & XANES) و شگردهای آزمایشگاهی برای جمع‌آوری بهینه داده‌ها، و هم‌چنین کارگاه‌هایی برای آموزش عملی آنالیز و ارزیابی داده‌های نمونه با نرم‌افزارهای تخصصی خواهد بود. در پایان نیز کارگاهی برای نگارش طرح پیشنهادی علمی برای آزمایش‌های مورد نظر شرکت‌کنندگان برگزار خواهد شد.

  • برای بهره‌برداری آسان‌تر از کارگاه‌های عملی در این مدرسه رایانه‌هایی همراه با سیستم‌عامل و همه‌ی نرم‌افزارهای مورد نیاز در اختیار شرکت‌کنندگان قرار داده خواهد شد.
  • هزینه‌ی شرکت در این مدرسه 350هزار تومان می‌باشد
  • در پایان گواهی شرکت داده خواهد شد

*کمک هزینه آموزشی*

به منظور سهولت امکان شرکت دانشجویان تحصیلات تکمیلی در این مدرسه، کمک هزینه‌ی آموزشی به مبلغ  2،000،000 ریال(دویست هزار تومان) در نظر گرفته شده است. دانشجویانی که علاقه دارند از این کمک هزینه آموزشی استفاده کنند می‌بایست رزومه‌ی خود را در هنگام ثبت‌نام ارسال نمایند. پس از بررسی رزومه توسط کارگروه علمی مدرسه، به 5 نفر کمک هزینه آموزشی تعلق می‌گیرد.

مراحل نام‌نویسی:

  1. تکمیل برگه‌ی درخواست نام‌نویسی و دریافت بلیط
  2. دریافت ایمیل تایید شرکت در مدرسه پس از بررسی کارگروه علمی.
  3. پرداخت هزینه‌ی شرکت در مدرسه  و فرستادن تصویر رسید به دبیرخانه.

دریافت پوستر فراخوان

مدرس

دکتر فریده جلیله‌وند

دکتر فریده جلیله‌وند

دانشیار دانشگاه کلگری کانادا

زمان‌بندی

شنبه (10 تیر)
یکشنبه (11تیر)
دوشنبه (12تیر)
سه شنبه (13تیر)
چهارشنبه (14تیر)
عنوانشروعپایان
Lecture 1: What are X-rays; correlation between wavelength and energy; interaction of light with matter; photoelectric effect; Compton effect; fluorescence yield. ۱۱:۳۰۱۲:۱۵
Lecture 2: X-ray sources; characteristic emission lines; what is synchrotron radiation; a brief introductory on instrumentation using the CD “Synchrotron, a Bright Light”.۱۳:۳۰۱۴:۴۵
Lecture 3: Introduction to X-ray Absorption Spectroscopy, mass absorption coefficient; absorption edge (binding energies) of different elements using “Xray Data Booklet”. ۱۵:۱۵۱۶:۳۰
عنوانشروعپایان
Lecture 4: EXAFS, XANES, instrumentation (undulator, wiggler, bending magnet), monochromator, harmonic rejection. ۹:۳۰۱۰:۴۵
Lecture 5: XAS measurement (transmission & fluorescence modes); detectors; energy calibration; filter; XANES features, and some related examples.۱۱:۰۰۱۲:۱۵
Lecture 6: Principles of EXAFS; spline; photoelectron wave vector; which edge should be measured: K-edge or L-edge?; Core hole lifetime; EXAFS simplified formula: total phase function.۱۳:۳۰۱۴:۴۵
عنوانشروعپایان
Lecture 7: EXAFS simplified formula: total amplitude function; amplitude reduction factor; Mean-free path factor; Debye-Waller factor.۹:۳۰۱۰:۴۵
Lecture 8: Fourier-transform of EXAFS oscillation; EXAFS Data Analysis; What is FEFF?; parameters in curve fitting procedure; correlation between parameters.۱۱:۰۰۱۲:۱۵
Lecture 9: Resolution and accuracy of data obtained from EXAFS; Standard deviation; limitations of the EXAFS technique; some examples of EXAFS data analysis (single and multiple scattering paths).۱۳:۳۰۱۴:۴۵
عنوانشروعپایان
Lecture 10: Introduction to WinXAS program for EXAFS data analysis.۹:۳۰۱۱:۰۰
Hands-on session I: EXAFS data treatment using Feff and WinXAS programs (solvation of metal ions)۱۳:۰۰۱۴:۱۵
Hands-on session II: EXAFS data treatment using Atoms, Feff and WinXAS programs: 1) structure of [Sr(OH2)8]2+ solid; 2) structure of K2[Pt(CN)4] in solution: correlating the parameters.۱۴:۴۵۱۶:۰۰
عنوانشروعپایان
Hands on session III: Further EXAFS data analysis practice۹:۳۰۱۲:۰۰

چشمه‌ی نور ایران

شماره دبیرخانه:
+۹۸۲۱۲۲۸۱۳۷۳۸

زمان: -

آدرس: تهران میدان نیاوران - پژوهشگاه دانش‌های بنیادی

موقعیت جغرافیایی رویداد برای مشاهده کامل نقشه کلیک کنید